ZEISS O-INSPECT

来自蔡司的O-INSPECT复合式测量机使您能理想地测量到每一个特征——通过光学或接触式。
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让您一目了然

 

O-INSPECT与CALYPSO测量软件提供全新的可视化功能,使O-INSPECT全面开启了测量机可视化的新纪元。通过它们您可以同时查看实际状态、理论状态及偏差,更快捷诠释测量结果。

 

大视野,高清图像

 

蔡司Discovery.V12来自蔡司显微镜事业部。与常规镜头比较,提供四倍更大视场,即便于镜头周边区域亦可确保极佳图像质量。优点:减少测量时间并具有稳定的精度。

 

 
 

1-ZEISS VAST XXT扫描探头;2-ZEISS Discovery.V12变焦镜头;3-ZEISS DotScan白光探头

 

 

ZEISS O-INSPECT系列

一个重要的特色:O-INSPECT在18-30℃的温度范围内提供符合ISO标准的可靠三维精度。一个附加的亮点:CALYPSO软件不仅简便地交付测量结果,而且简化了发觉和辨识错误原因的过程。

 

++

 

O-INSPECT 322 测量范围[dm] 3/2/2; O-INSPECT 543 测量范围[dm] 5/4/3; O-INSPECT 863 测量范围[dm] 8/6/3;

 

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更多测量点,更多信息

 

O-INSPECT配备灵活、快速及高精度的VAST XXT接触式连续扫描测头。 通过这种扫描测头即可捕捉相当大量的测量点,取得有关形状和位置的信息,是此类测量机中的佼佼者。

别的多探头测量机仅允许单点测量,而且探针测力相当大;蔡司O-INSPECT却能以毫牛级别探针测力进行扫描测量,所以针对薄壁的工件也能实现真正的3D测量。

 

 

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O-INSPECT 322              

测量范围[dm]

3/2/2

           

O-INSPECT 543

             

测量范围[dm]  

5/4/3            

O-INSPECT 863

             

测量范围[dm]  

8/6/3

           

 

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